时间：2024-10-10 18:01:49
半导体测试原理
半导体测试原理主要是通过引入测试信号，检测和分析芯片的响应，以判断IC芯片是否正常工作并达到设计要求。半导体测试中起着至关重要作用的是边界扫描技术，它是一种基于边界扫描技术的测试方法。
边界扫描技术的基本原理是在器件内部定义一个测试访问口（TAP），通过专用的测试工具对内部节点进行测试。除了TAP之外，混合IC还包含移位寄存器和状态机，该状态机被称为TAP控制器，以执行边界扫描功能。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。
